Использование атомно-силовой микроскопии (АСМ) при исследовании поверхностей многокомпонентных ионно-плазменных покрытий и ионно-легированных материалов
Открыть
Дата
2011Автор
Гольцев, М. В.
Кухаренко, Л. В.
Гольцева, М. В.
Metadata
Показать полную информациюБиблиографическое описание
Гольцев, М. В. Использование атомно-силовой микроскопии (АСМ) при исследовании поверхностей многокомпонентных ионно-плазменных покрытий и ионно-легированных материалов // М. В. Гольцев, Л. В. Кухаренко, М. В. Гольцева / БГМУ: 90 лет в авангарде медицинской науки и практики : сб.науч. тр. / Белорус. гос. мед. ун-т; редкол. : А.В. Сикорский [и др.]. — Минск : ГУ РНМБ, 2011. — Т. 1. — C. 65-66.