Кинетика инжекционного отжига междоузельных атомов кремния в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами
Kinetics of injection annealing of interstitial silicon atoms in the p-region of silicon n+-p-structures irradiated with alpha particles
Открыть
Дата
2024Автор
Жданович, Д. Н.
Медведева, И. Ф.
Фадеева, Е. А.
Огородникова, Д. А.
Metadata
Показать полную информациюАннотации
Аннотация. Изучена кинетика инжекционного отжига собственных междоузельных атомов кремния в двукратно положительном зарядовом состоянии в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами. Показано, что зависимости концентрации дефектов от прошедшего через n+-p-структуру электрического заряда Q имеют нелинейный характер. Abstract. The kinetics of injection annealing of intrinsic interstitial silicon atoms in a doubly positive charge state in the p-region of silicon n+-p-structures irradiated with alpha particles was studied. It was shown that the dependences of the defect concentration on the electric charge Q passed through the n+-p-structure are nonlinear.
Библиографическое описание
Кинетика инжекционного отжига междоузельных атомов кремния в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами / Д. Н. Жданович, И. Ф. Медведева, Е. А. Фадеева, Д. А. Огородников // Медэлектроника–2024. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сб. науч. ст. XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, Респ. Беларусь, 5–6 дек. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники, Белорус. гос. мед. ун-т. – Минск, 2024. – С. 124–127. – URL: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58996.