Показать сокращенную информацию
Основы оптической, электронной и атомносиловой микроскопий
| dc.contributor.author | Кухаренко, Л. В. | |
| dc.contributor.author | Гольцев, М. В. | |
| dc.contributor.author | Недзьведь, О. В. | |
| dc.date.accessioned | 2019-10-29T08:09:23Z | |
| dc.date.available | 2019-10-29T08:09:23Z | |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-21-0248-3 | |
| dc.identifier.uri | https://rep.bsmu.by/handle/BSMU/25693 | |
| dc.description | Кухаренко, Л. В. Основы оптической, электронной и атомно-силовой микроскопий = Basics of optical, electron and atomic force microscopies : учебно-методическое пособие / Л. В. Кухаренко, М. В. Гольцев, О. В. Недзьведь. – Минск : БГМУ, 2019. – 35 с. | ru_RU |
| dc.description.abstract | Изложены принципы и конструктивные особенности, а также режимы работы оптического, электронного и атомно-силового микроскопов с физической точки зрения, в доступной для студентов форме. Предназначено для студентов всех медицинских специальностей, изучающих медицинскую и биологическую физику на английском языке. | ru_RU |
| dc.language.iso | en | ru_RU |
| dc.publisher | БГМУ | ru_RU |
| dc.subject | Микроскопия атомная | ru_RU |
| dc.subject | Микроскопия электронная | ru_RU |
| dc.subject | Учебно-методические пособия | ru_RU |
| dc.title | Основы оптической, электронной и атомносиловой микроскопий | ru_RU |
| dc.title.alternative | Basics of optical, electron and atomic force microscopies | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
