Кинетика инжекционного отжига междоузельных атомов кремния в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами
Kinetics of injection annealing of interstitial silicon atoms in the p-region of silicon n+-p-structures irradiated with alpha particles
View/ Open
Date
2024Author
Жданович, Д. Н.
Медведева, И. Ф.
Фадеева, Е. А.
Огородникова, Д. А.
Metadata
Show full item recordAbstract
Аннотация. Изучена кинетика инжекционного отжига собственных междоузельных атомов кремния в двукратно положительном зарядовом состоянии в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами. Показано, что зависимости концентрации дефектов от прошедшего через n+-p-структуру электрического заряда Q имеют нелинейный характер. Abstract. The kinetics of injection annealing of intrinsic interstitial silicon atoms in a doubly positive charge state in the p-region of silicon n+-p-structures irradiated with alpha particles was studied. It was shown that the dependences of the defect concentration on the electric charge Q passed through the n+-p-structure are nonlinear.
Description
Кинетика инжекционного отжига междоузельных атомов кремния в р-области кремниевых n+-p-структур, облученных альфа-частицами / Д. Н. Жданович, И. Ф. Медведева, Е. А. Фадеева, Д. А. Огородников // Медэлектроника–2024. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сб. науч. ст. XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, Респ. Беларусь, 5–6 дек. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники, Белорус. гос. мед. ун-т. – Минск, 2024. – С. 124–127. – URL: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58996.